校准超声波测厚仪的标准程序是使用经批准的校准块（也称为超声波校准标准）来检查压力表的线性度;块的尺寸范围从1.5毫米到50毫米。典型的程序包括使用不同的mm块进行4-5个单独的测试，以确保一致性。将探头放置在校准块上的指定区域，一旦声音穿透到块的背面，就会从中发射和接收声波;然后重复此测试，从较薄的块开始，并在每次连续测试后向上移动到较厚的块。

凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。可以对各种板材和加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。超声波测厚仪广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

哪些原因影响智能高精度测厚仪的精度

(1) 覆盖层厚度大于25μm时，其误差与覆盖层厚度近似成正比。

(2) 基体金属的电导率对测量有影响，它与基体金属材料成分及热处理方法有关。

(3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,，只有大于这个厚度，测量才不会受基体金属厚度的影响。

(4) 涡流测厚仪对试样测定存在边缘效应,，即对靠近试样样边缘或内转角处的测量是不可靠的。

不止是钢结构，目前铝材企业的开展进入一个新阶段，涂层测厚仪关于铝型材行业也有不可估量的价值，关键针对铝型材外表面氧化膜的检测，氧化膜关于铝型材的维护至关重要，这也就象征着涂层测厚仪不可或缺，经过准确测量不只可以及时获取产质量参数，而且可以节省材质。

光学干涉测厚仪，典型应用于光学膜涂布、太阳能晶元、超薄玻璃、胶带、Mylar膜、OCA光学胶、光阻等测量，测量原理是利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现无损非接触式测量薄膜类材料的厚度。